AF與ECM/SIR都是一個(gè)電化學(xué)過(guò)程;從產(chǎn)生的條件來(lái)看(都需要符合下面3個(gè)條件):電解液環(huán)境,即濕度與離子(Electrolyte–humidityandionicspecies);施加偏壓(Voltagebias–Forcethatdrivesthereaction);存在離子遷移的通道意味著玻纖與樹(shù)脂的結(jié)合間存在缺陷,或線與線間存在雜物等;(“Pathway”–Awayfortheionstomovefromtheanodetothecathode;Thepathwayisalongtheglassfiberswhentheresinimpregnationtotheglassfibershavedefects);加劇其產(chǎn)生的條件類似:高濕環(huán)境(Highhumidityrate);高電壓(HigherVoltagelevels);高溫環(huán)境(Highertemperature);離子遷移的表現(xiàn)可以通過(guò)表面絕緣電阻(SIR)測(cè)試電阻值顯現(xiàn)出來(lái)。湖北電阻測(cè)試直銷價(jià)
電阻測(cè)試Sir電阻測(cè)試可以應(yīng)用于各種不同的電路中。無(wú)論是簡(jiǎn)單的電路還是復(fù)雜的電路,都可以使用Sir電阻測(cè)試來(lái)測(cè)量電阻值。這種測(cè)試方法不僅適用于實(shí)驗(yàn)室環(huán)境,也適用于工業(yè)生產(chǎn)中。在工業(yè)生產(chǎn)中,Sir電阻測(cè)試可以用來(lái)檢測(cè)電路中的故障,提高生產(chǎn)效率。除了測(cè)量電阻值,Sir電阻測(cè)試還可以用來(lái)檢測(cè)電路中的其他問(wèn)題。例如,它可以用來(lái)檢測(cè)電路中的短路和斷路。通過(guò)測(cè)量電磁場(chǎng)的變化,可以判斷電路中是否存在短路或斷路問(wèn)題。這種測(cè)試方法可以幫助工程師快速定位電路中的問(wèn)題,并進(jìn)行修復(fù)。廣東智能電阻測(cè)試系統(tǒng)?授權(quán)手機(jī)APP可以遠(yuǎn)程進(jìn)行相關(guān)管理、操作,查看樣品監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)。
試驗(yàn)通道數(shù)1-256通道試驗(yàn)時(shí)間0---9999小時(shí)(可以任意設(shè)定)低阻測(cè)試測(cè)試范圍1mΩ---103Ω測(cè)量精度±(1%RD+10μΩ)**小分辨率1μΩ測(cè)試電流0.05-3.00(A)測(cè)試速度≦0.5秒/通道測(cè)試時(shí)分組16通道/組,各組所有參數(shù)可以**設(shè)置高、低溫區(qū)限值可分別任意設(shè)置電阻測(cè)試模式定時(shí)觸發(fā)、溫度觸發(fā)測(cè)試數(shù)據(jù)輸出圖表,EXCEL,TXT等格式,溫度和阻值曲線可重疊顯示。超限報(bào)警可設(shè)定配件測(cè)試電纜PTFE耐高溫電纜溫度監(jiān)測(cè)0-4通道溫度監(jiān)測(cè)選件溫度范圍:-70℃~+200℃,精度±1℃*本系統(tǒng)只提供自有版權(quán)的導(dǎo)通電阻實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試操作軟件,Windows操作系統(tǒng)、MS-office軟件及相關(guān)數(shù)據(jù)庫(kù)由客戶自行購(gòu)買*該系統(tǒng)可根據(jù)客戶的不同需求,定制特殊要求以實(shí)現(xiàn)更多功能
除雜PCB制程中若出現(xiàn)雜質(zhì)或殘銅,清潔處理不當(dāng)后,將金屬鹽類殘留在板面上。一旦吸潮或分層吸濕,便會(huì)形成CAF問(wèn)題。因此需調(diào)整參數(shù)避免殘銅,同時(shí)改進(jìn)清洗方法并充分清潔。評(píng)估CAF的方法:離子遷移評(píng)價(jià)通常使用梳型電路板為試料,將成對(duì)的電極交錯(cuò)連接成梳形圖案,在高溫高濕的條件下給予一固定之直流電壓,經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間之測(cè)試,并觀察線路是否有瞬間短路之現(xiàn)象。針對(duì)CAF引起的失效現(xiàn)象,一般采用的方法是逐步縮小范圍的方法;失效樣品先測(cè)試電阻》》用顯微鏡觀察,找出大概失效的位置》》退掉表面的綠油》》再觀察具體的位置》》磨切片觀察失效發(fā)生的原因從而使絕緣體處于離子導(dǎo)電狀態(tài)。顯然,這將使絕緣體的絕緣性能下降甚至成為導(dǎo)體而造成短路故障。
CAF形成過(guò)程:1、常規(guī)FR4P片是由玻璃絲編輯成玻璃布,然后涂環(huán)氧樹(shù)脂半固化后制成;2、樹(shù)脂與玻纖之間的附著力不足,或含浸時(shí)親膠性不良,兩者之間容易出現(xiàn)間隙;3、鉆孔等機(jī)械加工過(guò)程中,由于切向拉力及縱向沖擊力的作用對(duì)樹(shù)脂的粘合力進(jìn)一步破壞;4、距離較近的兩孔若電勢(shì)不同,則正極部分銅離子在電壓驅(qū)動(dòng)下逐漸向負(fù)極遷移。CAF產(chǎn)生的原因:1、原料問(wèn)題1)樹(shù)脂身純度不良,如雜質(zhì)太多而招致附著力不佳;2)玻纖束之表面有問(wèn)題,如耦合性不佳,親膠性不良;3)樹(shù)脂之硬化劑不良,容易吸水;4)膠片含浸中行進(jìn)速度太快;常使得玻纖束中應(yīng)有的膠量尚未全數(shù)充實(shí)填飽造成氣泡殘存。2、流程工藝問(wèn)題1)孔粗-鉆孔太過(guò)粗糙,造成玻纖束被拉松或分離而出現(xiàn)間隙;2)除膠渣-PCB制程之PTH中的除膠渣過(guò)度,或沉銅浸入玻纖束發(fā)生燈芯效應(yīng),過(guò)度的燈芯加上孔與孔相距太近時(shí),可能會(huì)使得其間板材的絕緣品質(zhì)變差加速產(chǎn)生CAF效應(yīng)。智能電阻具有更加便捷的操作和數(shù)據(jù)處理能力。廣東pcb離子遷移絕緣電阻測(cè)試訂做價(jià)格
提供質(zhì)量的售后服務(wù)對(duì)于電阻測(cè)試設(shè)備的供應(yīng)商來(lái)說(shuō)至關(guān)重要。湖北電阻測(cè)試直銷價(jià)
離子遷移絕緣電阻測(cè)試廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品制造和質(zhì)量控制過(guò)程中。它可以用于檢測(cè)電子元器件、印刷電路板、電子設(shè)備外殼等材料的質(zhì)量。通過(guò)測(cè)試,可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)材料中的離子遷移問(wèn)題和絕緣電阻異常,從而采取相應(yīng)的措施進(jìn)行修復(fù)或更換,確保電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。離子遷移絕緣電阻測(cè)試的方法主要包括濕度試驗(yàn)、電壓加速試驗(yàn)和絕緣電阻測(cè)量。濕度試驗(yàn)是將材料置于高濕度環(huán)境中,通過(guò)觀察離子遷移現(xiàn)象來(lái)評(píng)估材料的質(zhì)量。電壓加速試驗(yàn)是在高電壓條件下進(jìn)行離子遷移測(cè)試,以加速離子遷移速率,從而更快地評(píng)估材料的質(zhì)量。絕緣電阻測(cè)量是通過(guò)測(cè)量材料的絕緣電阻值來(lái)評(píng)估材料的絕緣性能。湖北電阻測(cè)試直銷價(jià)